Source Measure Units (SMUs) für Halbleiter
Für den Halbleitertest bieten wir zwei Familien von Source Measure Units an. Durch die Test Script Prozessor (TSP®) Architektur der System-SourceMeter-Familie der Serie 2600A und die Möglichkeiten für schnelle gepulste Messungen, eine parallele Testausführung und ein Präzisions-Timing wird ein deutlich höherer Durchsatz als mit anderen Lösungen erreicht, so dass die Testkosten reduziert werden können. Unser High Voltage SourceMeter Modell 2410 ist eine ideale Lösung für den Test von Widerständen und Spannungskoeffizienten, Varistoren und Hochspannungsdioden, einschließlich Schalt-, Zener- und RF-Dioden sowie Gleichrichtern. Dagegen ist unser 1kW Puls SourceMeter Modell 2430 ideal für die Messung der Durchbruchspannung bei vielen Arten von Hochleistungsbauteilen geeignet, wie MLVs (Multi-Layer Varistor) und Halbleiter-Bauelementen.
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