Parameter-Analysator für Halbleiter
Für parametrische Tests maximiert das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS die Produktivität in der Forschung und Entwicklung. Das System kombiniert eine DC- und Puls-Bauteilcharakterisierung in Laborqualität, eine Echtzeit-Aufzeichnung und eine Analyse mit hoher Präzision und Auflösung im Bereich von Sub-Femtoampere in einem voll integrierten Charakterisierungssystem. Optional sind die Kapazität-Spannungs-Einheit Modell 4210-CVU, das ultraschnelle I-V-Modul Modell 4225-PMU, der Pulsgenerator Modell 4220-PGU und der Remote Amplifier/Switch Modell 4225-RPM erhältlich. Die ACS Basic Edition Software von Keithley wurde speziell für den Test von Bauteilen und diskreten Halbleiterbauteilen (im Gehäuse) optimiert.
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