Aktuelles
NanotechnologieTest- CD von Keithley
Cleveland, Ohio, 13. Juli 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektronischen Testinstrumenten und Systemen, präsentiert seine neue Nanotechnology Technical Test Library auf CD.
Keithley stellt kostengünstigen und leistungsfähigen USB-GPIB-Schnittstellenadapter vor
Cleveland, Ohio, Juni 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, stellt den USB-GPIB-Schnittstellenadapter Modell KUSB-488B vor.
Keithley Instruments meldet für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2010 eine Umsatzsteigerung von 25 Prozent und einen Nettogewinn von $4.1 Millionen
Kostenlose CD zu elektrischer Test- und Messtechnik von Keithley
Cleveland, Ohio, April 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Messtechnik-Unternehmen, hat eine CD mit praktischen und hilfreichen Informationen für genaue und zuverlässige Messungen veröffentlicht.
Kostenloses technisches Internet-Seminar von Keithley über die Grundlagen der ultraschnellen I-U-Bauteil-Charakterisierung
Cleveland, Ohio, 16. April 2010 * * *Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, veranstaltet am Donnerstag den 29. April 2010 ein kostenloses Internet-Seminar mit dem Titel "Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization".
Keithley bietet kostenlose technische Digitalmultimeter-Bibliothek auf CD an
Cleveland, Ohio, März 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, hat eine technische Digitalmultimeter-Bibliothek (DMM) für Ingenieure und Forscher zum Einsatz von DMMs in unterschiedlichen Anwendungen zusammengestellt.
Keithley präsentiert 2010 Test- & Messtechnik Produktkatalog auf CD
Cleveland, Ohio, März 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, stellt seinen neuen Test- und Messtechnik-Produktkatalog 2010 auf CD vor.
Ultraschnelles U/I-Charakterisierungssystem von Keithley kombiniert drei wichtige Funktionen in einem Gerät
Cleveland, Ohio, 18. Februar 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und -systemen, erweitert mit dem Ultra Fast-I-V-Modul Modell 4225-PMU seine umfassende Palette von Messoptionen für das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS.
RF/Mikrowellen-Schaltsystem von Keithley in LeCROY SuperSpeed USB 3.0 Test-Suite
Cleveland, Ohio, 3. Februar 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, meldet, dass LeCroy Corporation, ein führender Hersteller von Testlösungen für serielle Daten, das RF/Mikrowellen-Schaltsystem System 46 (S46) von Keithley in seiner neuen USB 3.0 Test Suite Produktfamilie einsetzt.
Keithley Instruments verkauft seine RF-Produktlinie
Cleveland, Ohio, November 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich elektrischer Testinstrumente und Systeme, hat mit Agilent Technologies, Inc., ("Agilent") eine Vereinbarung über den Verkauf seiner kompletten RF-Produktlinie an Agilent unterzeichnet.
Keithley erweitert die Palette der mit der ACS Basic Edition Software kompatiblen DC-Source/Measure-Instrumente
Cleveland, Ohio, 27. August 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, hat seine eingeführte ACS Basic Edition Software erweitert und unterstützt nun eine größere Palette von Source-Measure (SMU) Instrumenten.
Visitate Keithley a European Microwave Week 2009, Roma, 28 settembre – 2 ottobre 2009, Stand n.: Stand #327C
Un’unica Soluzione di Interconnessione A Segnali Misti Per Le Apparecchiature di Caratterizzazione e i Prober di Dispositivi a Semiconduttore ora Disponibile da Keithley Instruments.
Keithley erweitert seine Familie der System Switch/Multimeter der Serie 3700 -- Neue schnelle und langlebige 6×16 Matrixkarte
Cleveland, Ohio, 6. Juli 2009 -- Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führendes Messtechnik-Unternehmen, erweitert seine Familie der System Switch/Multimeter und Einsteckkarten der Serie 3700 mit der schnellen 6x16 Reed-Relais-Matrixkarte Modell 3731.
Keithley erweitert die Firmware seiner Serie 3700 System Switch/Multimeter: Neue kostenlose Möglichkeit
Cleveland, Ohio, Juni 2009
Kostenloses Web-basierendes Technisches Seminar von Keithley über elektrische Messtechnik für Photovoltaik/Solarzellen
Cleveland, Ohio, 11. Mai 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, veranstaltet ein kostenloses Internet-Seminar mit dem Titel "Photovoltaik-Messungen: Test der elektrischen Eigenschaften moderner Solarzellen" in englischer Sprache. Das einstündige Seminar findet am Mittwoch den 27. Mai statt und bietet einen Überblick über den Bereich der elektrischen Messtechnik in der Entwicklung von Photovoltaik-Bauteilen von der Grundlagenforschung bis hin zu ersten Tests in der Produktion.
Keithley Instruments legt Ergebnisse für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2009 vor
Cleveland, Ohio, Mai 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, hat die Ergebnisse für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2009 bekannt gegeben, das am 31. März 2009 endete.
Keithley veranstaltet Seminare in Deutschland und der Schweiz
Cleveland, Ohio, 25. März 2009 * * * Keithley Instruments, Inc.
Keithley erweitert das Modell 4200-SCS für den Test von Solarzellen sowie mit einem größeren C-V-Frequenzbereich und einem Chassis mit neun Steckplätzen
Cleveland, Ohio, 20. März 2009 * * * Keithley Instruments, Inc.
Keithley stellt einzigartige mit dem Modell 4200-SCS kompatible Mixed-Signal-Verbindungslösung vor
Cleveland, Ohio, 20. März 2009 * * * Keithley Instruments, Inc.
Keithley bietet Test- & Messinstrumente zu attraktiven Sonderkonditionen an
Cleveland, Ohio, März 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und -systemen, bietet seinen europäischen Kunden eine Reihe von Test- und Messinstrumenten mit einem zeitlich befristeten Preisnachlass von 20% auf den Listenpreis an.
Keithley Instruments legt Ergebnisse für das erste Quartal des Geschäftsjahres 2009 vor
Cleveland, Ohio, Februar 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, gibt die Ergebnisse für das erste Quartal des Geschäftsjahres 2009 bekannt, das am 31. Dezember 2008 endete.
"2009 Test and Measurement Product Guide" von Keithley
Cleveland, Ohio, Februar 2009
Keithley Instruments meldet ein Umsatzwachstum von 22 Prozent für das dritte Quartal im Geschäftsjahr 2008
Cleveland, Ohio, Juli 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, hat heute die Ergebnisse für das dritte Quartal des Geschäftsjahres 2008 bekannt gegeben, das am 30. Juni 2008 endete.
Keithley und Azimuth Systems entwickeln gemeinsam LTE und WiMAX RF-Testlösungen
Cleveland, Ohio, Juni 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE : KEI), Keithley Instruments, Inc. (NYSE : KEI), ein führender Anbieter von elektro-nischer Messtechnik, und Azimuth Systems, ein führender Anbieter von Test-lösungen für drahtlose Breitband-Anwendungen und Kanal-Emulatoren für WiMAX, 4G und Wi-Fi, haben eine Zusammenarbeit vereinbart.
Robert G. Fulks erhält den 2008 IEEE Joseph F. Keithley Award für hervorragende Leistungen im Bereich der elektrischen Messtechnik
Cleveland, Ohio, Juni 2008 * * * Das Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) verleiht den 2008 IEEE Joseph F. Keithley Award in Instrumentation and Measurement in diesem Jahr an Robert G. Fulks.
Neue kostenlose CD mit technischer Literatur über Präzisions-Sourcing/Quellen und –Messen von Keithley
Cleveland, Ohio, Mai 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von Test- und Messtechniklösungen, stellt den "Precision Sourcing and Measurement Resource Guide" vor.
Keithley stellt CD mit Testanwendungen für Halbleiterbauelemente vor
Cleveland, Ohio, 8. Mai 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik, stellt den "Semiconductor Device Test Applications Guide" vor.
Keithley veröffentlicht neue sechste Ausgabe des technischen "Switching Handbook"
Cleveland, Ohio, Mai 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von Test- und Messtechnik-Lösungen, stellt die mittlerweile sechste Ausgabe des "Switching Handbook: A Guide to Signal Switching in Automated Test Systems" vor.
Automated Characterization Suite (ACS) Testsystem ermöglicht einen bis zu fünfmal schnelleren Zuverlässigkeitstest auf Waferebene
Cleveland, Ohio, Mai 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, hat seine Automated Characterization Suite (ACS) Software um optionale Werkzeuge für einen Wafer-Zuverlässigkeitstest (WLR) erweitert, mit denen sich Tests für die Halbleiterzuverlässigkeit und die Lebensdauervoraussage durchführen lassen.
Keithley Instruments meldet ein Umsatzwachstum von 21 Prozent für das zweite Quartal im Geschäftsjahr 2008
Cleveland, Ohio, April 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, hat heute die Ergebnisse für das am 31. März 2008 zu Ende gegangene zweite Quartal des Geschäftsjahres 2008 bekannt gegeben.
Kostenlose technische Fachseminare und Workshops von Keithley vor Ort
Germering, März 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) ein Anbieter von innovativer Messtechnik, führt eine kostenlose Seminar-Reihe mit Workshop zum Thema „Messen und Testen“ durch.
Keithley und Stratosphere Solutions entwickeln zusammen fortschrittliche Lösungen zur Prozesscharakterisierung unter 65 nm
Cleveland, Ohio, Februar 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) (Sunnyvale, CA), ein Anbieter von innovativer Messtechnik, arbeitet künftig mit Stratosphere Solutions, Inc. (Sunnyvale, CA) zusammen.
Keithley Instruments gibt Ergebnisse für erstes Quartal des Geschäftsjahres 2008 bekannt
Cleveland, Ohio, Januar 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) gibt die Ergebnisse für das erste Quartal des Geschäftsjahres 2008, das am 31. Dezember 2007 endete, bekannt.
Keithley ACS Version 3.2 ermöglicht neuen parallelen Test und parametrische Die-Sortierung mit höherem Durchsatz
Cleveland, Ohio, Januar 2008 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, stellt die Version 3.2 der ACS (Automated Characterization Suite) Software für die Charakterisierung von Halbleitern auf Bauteil-, Wafer- und Kassetten-Ebene vor.
Keithley stellt neues integriertes C-V Modul und Software für das Halbleiter-Charakterisierungssystem 4200-SCS von Keithley vor
Cleveland, Ohio, SEMICON Europa, Stuttgart, 9. Oktober 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik, stellt ein neues C-V-Messinstrument für das Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS vor.
Deutsches Service-Center von Keithley erhält Akkreditierung nach ISO 17025
Cleveland, Ohio und Germering, Deutschland, Oktober 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik, meldet, dass sein Service-Center in Deutschland vom A2LA (American Association for Laboratory Accreditation) im Hinblick auf ISO/IEC 17025:2005, einem der wichtigsten Standards der Test- und Messtechnik, akkreditiert wurde.
Keithley und CNSI vereinbaren Partnerschaft im Bereich der Nanotechnologie-Messtechnik
Cleveland, Ohio, September 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, gibt die Partnerschaft mit The California NanoSystems Institute der UCLA (University of California, Los Angeles) bekannt.
Keithley erweitert Sourcemeter®-Linie mit Messmöglichkeiten für kleine Ströme für schnelle, kompakte und wirtschaftliche parametrische Tests
Cleveland, Ohio, 13. September 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, stellt zwei neue Erweiterungen für die SourceMeter® Instrumente der Serie 2600 vor, mit der sich fortschrittliche und kostengünstige Lösungen für parametrische Analysen und Tests von Halbleitern realisieren lassen.
Keithley stellt Linux-basierende parametrische Testsysteme vor
Cleveland, Ohio, 19. Juli 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, stellt eine Reihe von Erweiterungen für die Parametertestsysteme der Serie S600 vor.
Keithley meldet Verfügbarkeit weiterentwickelter parametrischer Probe Cards
Cleveland, Ohio, 18. Juli 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, hat FormFactor, Inc., (Nasdaq: FORM) mit Sitz in Livermore/Kalifornien, als Anbieter von leistungsfähigen Probe Cards für die parametrischen Halbleitertester von Keithley qualifiziert.
Keithley gibt Entwicklungspartnerschaft mit französischem CEA Leti Laboratory im Bereich der Nanotechnologie- und Halbleiter-Material-Forschung bekannt
Cleveland, Ohio, Grenoble, Frankreich, 17. Juli 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, meldet dass mit CEA Leti, einem weltweit führenden Halbleiterentwicklungslabor, eine Entwicklungspartnerschaft (JDP - Joint Development Partnership) rund um Testtechnologie für Halbleiterbauteil-werkstoffe vereinbart wurde.
Keithley Instruments erhält Auszeichnung "2006 Supplier Excellence Award" von Texas Instruments
Cleveland, Ohio, Juli 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, wurde von Texas Instruments (TI) mit dem "2006 Supplier Excellence Award" ausgezeichnet.
Keithley Instruments erwartet für zweites Quartal des Geschäftsjahres 2007 geringere Ergebnisse
Cleveland, Ohio, April 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, meldet, dass der Umsatz des zum 31. März 2007 abgelaufenen zweiten Quartals des Geschäftsjahres 2007 voraussichtlich knapp unterhalb der ursprünglichen Erwartungen liegen wird.
Keithley veröffentlicht Handbuch zum Thema Nanotechnologie-Messtechnik
Cleveland, Ohio, April 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von messtechnischen Lösungen, hat ein 124-seitiges Handbuch für Anwendungen aus dem Bereich der Nanotechnologie veröffentlicht.
Keithley stellt integrierte Testsysteme für einen schnelleren und einfacheren Test von Halbleitern vor
Cleveland, Ohio, April 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, stellt mit dem ACS (Automated Characterization Suite) integrierte Testsysteme für die Charakterisierung von Halbleitern auf Bauteil-, Wafer- und Kassetten-Ebene vor.
Keithley stellt verbesserte Puls- und Puls I-V Testmöglichkeiten für Halbleiterbauteile vor
Cleveland, Ohio, April 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat eine neue Version der Hardware und Software für sein Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS vorgestellt und damit die Pulstestmöglichkeiten des Modells 4200-SCS deutlich erweitert.
Keithley veranstaltet Nano Days Online-Konferenz
Cleveland, Ohio, März 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von messtechnischen Lösungen, veranstaltet vom 24. April bis 26.
Keithley veröffentlicht neues Handbuch zu den Themen Datenerfassung, Messtechnik und Steuerung
Cleveland, Ohio, März 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von Messtechniklösungen, hat eine neues Handbuch mit dem Titel "Understanding New Developments in Data Acquisition, Measurement, and Control" veröffentlicht.
Keithley stellt Handbuch für parallele parametrische Tests vor
Cleveland, Ohio, Februar 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) stellt mit "Parallel Test Technology: The New Paradigm for Parametric Testing" ein Handbuch zum Thema parametrischer Test von Halbleitern vor.
Keithley erhält Auszeichnung für hervorragende Kundenzufriedenheit in der Halbleiterindustrie
Cleveland, Ohio, Januar 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat von VLSI Research Inc, einem weltweiten führenden Anbieter von unabhängigen Kundenbefragungen im Bereich der Halbleiterfertigung, eine Auszeichnung für hervorragende Kundenzufriedenheit erhalten.
Neues Upgrade der parametrischen Test-Software KTE 5.2 von Keithley
Cleveland, Ohio, Dezember 2006 * * * Keithley Instruments (NYSE: KEI) stellt die Version V5.2 seiner Keithley Interactive Test Environment Software (KTE) für das Parametric Test System der Serie S600 vor.
Keithley stellt neue kostengünstige und leistungsfähige GPIB-Schnittstelle vor
Cleveland, Ohio, November 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechniklösungen, stellt mit dem Low Profile GPIB Controller Interface Modell KPCI-488LP eine neue GPIB-Schnittstellenkarte vor.
Keithley stellt neue Version der Testsoftware mit verbesserten Impulsmessmöglichkeiten vor
Cleveland, Ohio, November 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE:KEI) stellt mit der Software KTE Interactive V6.1 eine aktualisierte Version der leistungsfähigen Messsoftware KTEI (Keithley Test Environment Interactive) für das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS vor.
Keithley stellt PXI-Produkte für hybride Systeme für den Produktionstest vor
Cleveland, Ohio, electronica, München, 14. November 2006 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) stellt eine neue Familie von PXI-Produkten vor, speziell entwickelt für automatische hybride Testsysteme, die in Produktionslinien mit hohem Durchsatz eingesetzt werden.
Keithley und Mesatronic entwickeln gemeinsam eine neue Wafer-Prober-Technologie für Low-Current- und RF-Probe Cards
Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) hat zusammen mit Mesatronic Group (Voiron, Frankreich) fortschrittliche Probe Cards für HF- und Low-Current-Anwendungen von Halbleiter-Parameter-Tester entwickelt. William Merkel, Marketing Director der Keithley Parametric Test Product Group meint hierzu: "Die neuen Probe Cards werden noch in diesem Jahr verfügbar sein und können dann mit den Parametertestern von Keithley für eine simultane Extraktion von HF- und sehr kleinen DC-Stromparametern genutzt werden.
Keithley erhält umfassende Akkreditierung gemäß ISO 17025 für Messtechnik-Dienstleistungen
Cleveland, Ohio, September 2006 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, meldet, dass seine Metrology Services Group vom A2LA (American Association for Laboratory Accreditation) im Hinblick auf ISO/IEC 17025:2005, einem der wichtigsten Messtechnik-standards der Test- und Messtechnik, akkreditiert wurde.
Keithley erweitert die Produktpalette seiner schnellen, kleinen und kostengünstigen SMU-Geräte
Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) stellt zwei neue Erweiterungen seiner System-SourceMeter®-Instrumente der Serie 2600 vor. Die Modelle 2611 und 2612 erweitern die gegenwärtigen Möglichkeiten der im letzten Jahr von Keithley vorgestellten revolutionären Source-Measure Unit (SMU) Plattformen im Hinblick auf eine höhere Spannung und höheren Strom. Dadurch können die Testkosten bei verschiedenen elektronischen Bauteilen deutlich gesenkt werden.
Keithley spielt eine Schlüsselrolle bei den neuen IEEE Teststandards für Kohlenstoff-Nanoröhrchen
Cleveland, Ohio, März 2006 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) meldet, dass das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200 dem neuen IEEE-Standard (Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc.) für den elektrischen Test von Kohlenstoff-Nanoröhrchen entspricht und diesen unterstützt. Der kürzlich vorgestellte Standard IEEE 1650(TM)-2005 "Standard-Methoden zur Messung der elektrischen Eigenschaften von Kohlenstoff-Nanoröhrchen" hat der aufstrebenden Nanotechnologie-Industrie einheitliche und durchgängige Test- und Datenberichtsprozeduren für die Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Kohlenstoff-Nanoröhrchen vorgeschlagen. Das Modell 4200 hat sich im Bereich der Nanotechnologie als wichtige Messplattform für die Materialforschung durchgesetzt.
Keithley veröffentlicht neue Ausgabe des "Handbuchs des Schaltens"
Cleveland, Ohio, März 2006 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) stellt die neu überarbeitete, mittlerweile fünfte Ausgabe des "Switching Handbook vor". Das 190-seitige Handbuch erläutert die Grundlagen der Schalttechnik in Test- und Messanwendungen und ist kostenlos und einfach anzufordern unter der Webadresse http://www.keithley.info/SwitchHandbook/
Keithley veröffentlicht Test- und Messtechnik Produktkatalog 2006
Cleveland, Ohio, Januar 2006 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechniklösungen, stellt den Test- und Messtechnik Produktkatalog 2006 vor. Das Nachschlagewerk enthält detaillierte Informationen und Spezifikationen zu den universellen und hochempfindlichen Quellen- und Messprodukten, sowie zu DC- und HF-Schalt- und Messlösungen, Datenerfassungslösungen, Halbleitertestsystemen und Optoelektronik-Testhardware von Keithley. Verschiedene Tutorials vereinfachen die Auswahl der jeweils optimalen Lösung für den entsprechenden Anwendungsfall. Ein kostenloses Exemplar des Katalogs 2005 kann unter www.keithley.info/06Catalog bei Keithley angefordert werden.
Keithley Instruments gibt Ergebnisse für das vierte Quartal und das Geschäftsjahr 2005 bekannt
Cleveland, Ohio, November 2005 * * * Keithley Instruments, Inc. NYSE:KEI) gibt die Ergebnisse für das vierte Quartal und das Geschäftsjahr 2005 bekannt, das am 30. September 2005 endete.
Keithley eröffnet neue Büros in Asien
Cleveland, Ohio, Oktober 2005 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat seine Präsenz in Südost-Asien durch die Erweiterung des Büros in Singapur und die Öffnung von zwei neuen Büros in Malaysia deutlich ausgebaut. Der direkte Vertrieb sowie die Unterstützung der elektrischen Test- und Messlösungen des Unternehmens kann damit stark verbessert werden.
Neue KUSB-3100 Serie von Keithley
Cleveland, Ohio, März 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) stellt mit der Serie KUSB-3100 eine Reihe von USB-basierenden Datenerfassungs-messlösungen vor.
Hynix bestellt bei Keithley weitere Halbleitertestsysteme des Typs
Cleveland, Ohio, März 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) meldet, dass das Unternehmen von Hynix Semiconductor, Inc einen Auftrag über die Lieferung mehrerer Parameter-Testsysteme des Typs S680 DC/RF erhalten hat. Hynix ist ein führender koreanischer Halbleiterhersteller und einer der weltweit größten DRAM-Produzenten (Dynamic Random Access Memory).
Keithley stellt neue Generation seiner On-Wafer HF-Messmöglichkeiten vor
Cleveland, Ohio, März 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) stellt die dritte Generation seiner On-Wafer HF-Messmöglichkeiten für die parametrische Prozesskontrolle in der Halbleiterproduktion vor.
Keithley SourceMeter 2600 für mehrkanalige Anwendungen: schneller, kleiner und kostengünstiger
Cleveland, Ohio, März 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) stellt mit den System SourceMeter®-Instrumenten der Serie 2600 eine neue Plattform vor, die den Herstellern elektronischer Bauteile, einschließlich Halbleitern und Verbindungshalbleitern, eine deutliche Senkung der Testkosten ermöglicht.
Keithley Instruments meldet eine Steigerung des Umsatzes um 20 % und des Gewinns um 156 % für das erste Quartal des Geschäftsjahres 2005
Cleveland, Ohio, Januar 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) gibt die Ergebnisse für das erste Quartal des Geschäftsjahres 2005, das am 31. Dezember 2004 endete, bekannt.
Neu CD von Keithley Instruments zum Thema Zuverlässigkeitstest von Halbleiterbauteilen
Cleveland, Ohio, Januar 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) stellt eine interaktive CD für Halbleitertestingenieure zum Thema Zuverlässigkeitstest vor.
Test- und Messtechnik Katalog 2005 von Keithley
Cleveland, Ohio, Januar 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechniklösungen, stellt den neuen Test- und Messtechnik Produktkatalog 2005 vor.
Keithley Instruments meldet für das vierte Quartal des Geschäftsjahres 2004 eine Steigerung des Umsatzes um 35 % und des Auftragseingangs um 49%
Cleveland, Ohio, November 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), Keithley Instruments Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechniklösungen, hat heute die Ergebnisse für das vierte Quartal und das Geschäftsjahr 2004 bekannt gegeben, das am 30. September 2004 endete.
Keithley stellt USB-GPIB-Schnittstellenadapter vor
Cleveland, Ohio, Oktober 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, stellt mit dem Modell KUSB-488 einen USB-GPIB-Schnittstellenadapter vor. Mit Hilfe des Modells KUSB-488 lässt sich jeder Computer mit einem USB-Anschluss in einen vollständigen funktionsfähigen IEEE 488.2-Controller umwandeln, der somit bis zu 14 programmierbare GPIB-Instrumente steuern kann.
Keithley Instruments erhält Auftrag über mehrere S680 Parametrische Testsysteme von führendem koreanischen Halbleiterhersteller
Cleveland, Ohio, September 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) gibt bekannt, dass das Unternehmen von einem führenden koreanischen Halbleiterhersteller einen Auftrag über die Lieferung mehrerer S680 DC/HF-Parameter-Testsysteme für verschiedene Fabs erhalten hat. Der Auftrag im Wert von mehreren Millionen Dollar umfasst Tools für die Kontrolle des Produktionsprozesses für 200 mm und 300 mm Wafer.
Keithley Instruments meldet für drittes Quartal des Geschäftsjahres 2004 zweistelliges Wachstum bei Umsatz und Auftragseingang
Cleveland, Ohio, Juli 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, hat die Ergebnisse für das dritte Quartal des Geschäftsjahres 2004 bekannt gegeben, das am 30. Juni 2004 endete.
Keithley stellt Nanovoltmeter Modell 2182A vor Messung kleiner Spannungen mit niedrigem Störpegel
Cleveland, Ohio, Juli 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich moderner elektrischer Testinstrumente und Systeme, stellt mit dem Modell 2182A ein Nanovoltmeter vor, das speziell für die Messung kleiner Spannungen und Widerstände mit niedrigem Störpegel in Forschungs-, Metrologie-, Nanotechnologie-, Supraleiter- und anderen Anwendungen optimiert wurde.
Keithley stellt Präzisions-DC- und AC/DC-Stromquellen-Signalgenerator vor Modell 6221 ist die einzige auf dem Markt verfügbare AC-Stromquelle
Cleveland, OH - Juli 14, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich elektrischer Testinstrumente und Systeme, stellt die AC- und DC-Stromquelle Modell 6221 und die DC-Stromquelle Modell 6220 vor.
Keithley erweitert seine HF-Möglichkeiten mit der Messung der Modulationsqualität von GSM-Sendern
Cleveland, OH - Juli 7, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich elektrischer Testinstrumente und -Systeme, stellt eine neue Option für seinen RF Power Analyzer Modell 2800 zur Durchführung von Messungen der Modulationsqualität von GSM-Sendern vor.
Kostenlose CD zum Thema Temperaturmessung von Keithley
Cleveland, Ohio, Juni 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich elektrischer Testgeräte und -systeme, stellt eine interaktive CD zum Thema Genaue Temperaturmessung vor. "Understanding Measurements - Temperature" bietet einen Einblick in die verschiedenen Temperaturmessverfahren und die Auswahl der besten Methoden für spezielle Anwendungen zur Temperaturmessung.
Keithley Instruments meldet gute Ergebnisse für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2004
Cleveland, OH - April 28, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, gibt die Ergebnisse für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2004 bekannt, das am 31. März 2004 endete.
Kostenlose CD mit Messtechnik-Fachseminaren von Keithley
Cleveland, OH - März 25, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Unternehmen der Test- und Messtechnik, hat eine CD herausgebracht, die eine Zusammenstellung seiner Online-Fachseminare zu den verschiedensten Messmethoden enthält.
Keithley Instruments gibt Nanotechnologie-Partnerschaft mit SUNY-Albany NanoTech Centre bekannt
Albany, NY - Februar 3, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Messtechnik-Unternehmen, gab die Zusammenarbeit mit dem Albany NanoTech Centre der University at Albany - State University of New York (SUNY) bekannt. Ziel ist die gemeinsame Nutzung von Forschungsinformationen und die gemeinsame Arbeit im Bereich der Nanotechnologie und Optoelektronik.
Neues System S680DC/RF testet 300 mm Wafer genauso schnell wie 200 mm Wafer
Cleveland, Ohio, Januar 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat mit dem Parameter-Testsystem S680DC/RF das neueste Modell seiner Serie S600 vorgestellt. Das System erlaubt mittels SimulTestT, der neuen Software-Option für parallele Tests (zum Patent angemeldet), die Überwachung von 300 mm Waferprozessen genauso schnell wie für 200 mm Wafer, wobei mit einer einzigen Annäherung der Probe bis zu neun Bauteile gleichzeitig gemessen werden können.
Keithley erweitert Halbleiter-Charakterisierung mit Modell 4200-SCS und Software KTEI 5.0 um Stress- und Zuverlässigkeitstests
Cleveland, Ohio, Januar 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat das neue Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS mit integrierter Software KTEI v5.0 (Keithley Test Environment-Interactive) vorgestellt. Das Modell mit KTEI 5.0 bietet dem Anwender als einziges standardmäßiges Testsystem nicht nur die Möglichkeit für eine Halbleiter-Charakterisierung, sondern auch für Stress- und Zuverlässigkeitstests zur Analyse der Bauteillebensdauer und zur Qualitätssicherung.
Neue Karten für das Multi-Channel I-V Testsystem Modell 4500-MTS erweitern die Funktionalität und reduzieren die Testkosten
Cleveland, Ohio, Januar 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat zwei neue mehrkanalige Source-Measure-Testkarten als Erweiterung des Multi-Channel I-V Testsystems Modell 4500-MTS vorgestellt. Die Modelle 4510- und 4511-QIVC (Quad I-V Card) beinhalten jeweils vier Source-Measure-Kanäle, so dass sich mit allen neun Steckplätzen des PCI Grundsystems Modell 4500-MTS Lösungen mit bis zu 36 I-V-Messkanälen realisieren lassen.