Aktuelles
Keithley erweitert Halbleiter-Testsoftware in den Bereichen Zuverlässigkeitsprüfung und Leistungshalbleiter
Cleveland, Ohio, Januar 2012 * * * Keithley Instruments, Inc., ein weltweit führender Anbieter von fortschrittlichen elektrischen Testinstrumenten und Syste-men, hat den Funktionsumfang seiner ACS Testumgebung (Automated Characterization Suite) erweitert. Die ACS Version 4.4 wurde hauptsächlich für die Durchführung einer automatischen Bauteilcharakterisierung und Zuverlässigkeitsanalyse mit den Instrumenten und Systemkonfigurationen des Unternehmens entwickelt.
Halbleiter-Parameteranalyzer von Keithley unterstützt jetzt auch nichtflüchtige Speicher, C-V-Messungen mit sehr niedriger Frequenz und einen erhöhten parallelen Test
Cleveland, Ohio, 5. Oktober 2011 * * * Keithley Instruments, Inc., ein weltweit führender Anbieter von fortschrittlichen elektrischen Testinstrumenten und Systemen, hat mehrere Verbesserungen für sein mehrfach ausgezeichnetes Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS vorgestellt.
Keithley stellt SourceMeter® - Instrument für den Test von Leistungshalbleitern vor
Cleveland, Ohio, 4. April 2011 * * * Keithley Instruments, Inc., ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, erweitert mit dem High Power System-SourceMeter® Instrument Modell 2651A seine Produktfamilie der Serie 2600A.
Keithley Instruments verbessert Durchsatz und Genauigkeit des Parameter-Testsystems S530
Cleveland, Ohio, Januar 2011 * * * Keithley Instruments, Inc., ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, präsentiert mehrere Verbesserungen für seine S530 Parameter-Testsysteme, die zu den kostengünstigsten automatischen Parameter-Testlösungen für die Halbleiter-Produktion gehören.
Test- & Messtechnik Katalog 2011 von Keithley auf CD
Cleveland, Ohio, Januar 2011 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, stellt seinen neuen Test- und Messtechnik-Produktkatalog 2011 auf CD vor. Die CD enthält detaillierte Informationen und technische Spezifikationen zu den universellen und hochempfindlichen Quellen- und Messprodukten, DC-, RF- und Mikrowellen-Schaltlösungen, Digitalmultimetern, Datenerfassungsprodukten und Halbleiter-Testsystemen von Keithley.
Neues Anwender-Forum von Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, November 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, hat ein Forum für Kunden und Anwender von Keithley-Messtechnik geschaffen, das als zentrale Anlaufstelle für Produktunterstützung und den Austausch von Anwendungsbeispielen über das Internet dient. Das Forum ist über http://forum.keithley.com zu erreichen und wird von Messtechnik- und Anwendungsexperten von Keithley moderiert. Mitarbeiter stehen für die Beantwortung von Fragen zur Verfügung und weisen die Besucher des Forums auch auf Quellen mit tiefergehenden Informationen, wie Applikationsberichte und White Paper, Internet-Seminare etc., von Keithley hin.
Physik-Nobelpreis-Gewinner verwenden Messinstrumente von Keithley
Cleveland, Ohio, Oktober 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, gratuliert Dr. Andre Geim und Dr. Konstantin Novoselov zum Nobelpreis in Physik 2010.
Neue Schalt-Grundgeräte von Keithley ermöglichen höheren Durchsatz bei Halbleitertestanwendungen
Cleveland, Ohio, 1. September 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, stellt zwei neue Schaltgrundgeräte vor: das Modell 707B mit sechs Steckplätzen und das Modell 708B mit einem Steckplatz.
NanotechnologieTest- CD von Keithley
Cleveland, Ohio, 13. Juli 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektronischen Testinstrumenten und Systemen, präsentiert seine neue Nanotechnology Technical Test Library auf CD.
Keithley stellt kostengünstigen und leistungsfähigen USB-GPIB-Schnittstellenadapter vor
Cleveland, Ohio, Juni 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, stellt den USB-GPIB-Schnittstellenadapter Modell KUSB-488B vor.
Keithley Instruments meldet für das zweite Quartal des Geschäftsjahres 2010 eine Umsatzsteigerung von 25 Prozent und einen Nettogewinn von $4.1 Millionen
Kostenlose CD zu elektrischer Test- und Messtechnik von Keithley
Cleveland, Ohio, April 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führendes Messtechnik-Unternehmen, hat eine CD mit praktischen und hilfreichen Informationen für genaue und zuverlässige Messungen veröffentlicht.
Kostenloses technisches Internet-Seminar von Keithley über die Grundlagen der ultraschnellen I-U-Bauteil-Charakterisierung
Cleveland, Ohio, 16. April 2010 * * *Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, veranstaltet am Donnerstag den 29. April 2010 ein kostenloses Internet-Seminar mit dem Titel "Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization".
Keithley bietet kostenlose technische Digitalmultimeter-Bibliothek auf CD an
Cleveland, Ohio, März 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, hat eine technische Digitalmultimeter-Bibliothek (DMM) für Ingenieure und Forscher zum Einsatz von DMMs in unterschiedlichen Anwendungen zusammengestellt.
Keithley präsentiert 2010 Test- & Messtechnik Produktkatalog auf CD
Cleveland, Ohio, März 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von Messtechnik-Lösungen, stellt seinen neuen Test- und Messtechnik-Produktkatalog 2010 auf CD vor.
Ultraschnelles U/I-Charakterisierungssystem von Keithley kombiniert drei wichtige Funktionen in einem Gerät
Cleveland, Ohio, 18. Februar 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und -systemen, erweitert mit dem Ultra Fast-I-V-Modul Modell 4225-PMU seine umfassende Palette von Messoptionen für das Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS.
RF/Mikrowellen-Schaltsystem von Keithley in LeCROY SuperSpeed USB 3.0 Test-Suite
Cleveland, Ohio, 3. Februar 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Testinstrumenten und Systemen, meldet, dass LeCroy Corporation, ein führender Hersteller von Testlösungen für serielle Daten, das RF/Mikrowellen-Schaltsystem System 46 (S46) von Keithley in seiner neuen USB 3.0 Test Suite Produktfamilie einsetzt.