Halbleiter Test-Systeme

Von der Materialentwicklung bis hin zum Produktionstest und der Produktionsüberwachung gehört Keithley zu den führenden Anbietern von zuverlässigen Halbleitertestlösungen. Im Entwicklungslabor stellen die Halbleiter-Charakterisierungs-Systeme von Keithley eine einzigartige Empfindlichkeit und Flexibilität für die Untersuchung von Materialeigenschaften, die Beschreibung von Bauteilattributen und die Qualifizierung neuer Designs zur Verfügung. Keithley gehört auch zu den führenden Unternehmen von Technologien für automatische Parametertests zur Überwachung von Produktionsprozessen und hat viele Innovationen den Weg gebracht, die kürzere Testzyklen und geringere Testkosten ermöglicht haben. Zu den Beispielen gehören APT-Systeme, die parallele DC- und HF-Messungen über eine einzige Messsonde sowie Software und GUIs für Halbleiter-Charakterisierungssysteme, die Testsequenzen und Ergebnisse mit wenigen Mausklicks ermöglichen. Die Systeme von Keithley erlauben auch eine maximale Wiederverwendung von Systemkomponenten bei sich ändernden Testanforderungen und eine einfache Anbindung unterschiedlichster anderer Anlagen, wie Bauteilhandler, schnelle Schaltsysteme oder Signalquellen für spezielle Tests. Weitere Informationen zu den Halbleitertestsystemen von Keithley erhalten Sie durch einen Klick auf die Links unten.